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冶金结合

我们的冶金结合技术确保不同金属在原子层面的无缝界面,创建具有卓越性能的双金属复合材料。

结合界面特性

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原子级集成

  • • 金属层之间的直接原子结合
  • • 无中间粘合剂或镀层
  • • 连续、无空隙的界面
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机械性能

  • • 优异的剥离强度和剪切强度
  • • 循环载荷下优异的疲劳强度
  • • 跨温度范围的稳定性能
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质量保证

  • • 使用超声波测试进行100%界面检测
  • • 整个生产过程中的统计过程控制
  • • 每批产品经过认证的结合强度

界面对比

性能参数 Metallurgical Bond Electroplated
结合强度 ≥ 60 MPa 5-15 MPa
界面连续性 100%连续 常不连续
热稳定性 Excellent 差 - 剥离
耐腐蚀性 Excellent 中等

技术深度解析:原子级结合原理

不同于仅依靠表面粗糙度进行机械咬合的传统工艺,Raytron 的 metallurgical bond 技术通过严格控制退火过程中的热力学参数,促使铜和铝原子跨越界面势垒进行相互渗透。这种扩散行为形成了一个几十微米厚的、具有成分梯度的固溶体过渡层。

结果:在最苛刻的应用中实现可靠性能

微观结构对比

冶金结合与机械结合微观对比

高倍显微镜下的界面结构模拟

机械结合 (电镀)

  • 界面存在微小缝隙
  • 容易发生电化学腐蚀
  • 受热膨胀不一致易剥离

冶金结合 (包覆焊接)

  • 原子间相互渗透扩散
  • 完全消除接触电阻
  • 像单一金属一样加工

常见问题

为什么冶金结合比机械结合更可靠?
机械结合仅依靠表面的物理附着力,在弯折或温度变化时容易失效。冶金结合通过原子扩散形成新的合金层,将两种金属“锁”在一起,成为一个整体,因此具有极高的可靠性。
界面处会产生脆性化合物吗?
我们通过精确控制扩散温度和时间,优化界面结合层厚度,避免产生过厚的脆性金属间化合物,确保材料在获得足够结合力的同时保持良好的延展性。

应用此技术的产品

铜包铝圆线 - 65% IACS导电率, 铜包铝 (Cu/Al), 应用于通信电缆和同轴电缆

铜包铝圆线

铜包铝 (Cu/Al)

导电率: 65% IACS
Ø 0.05-12 mm
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铜包铝扁线 - 65% IACS导电率, 铜包铝 (Cu/Al), 应用于电机绕组和变压器

铜包铝扁线

铜包铝 (Cu/Al)

导电率: 65% IACS
0.5-25 mm W 0.1-5 mm T
View Details
铜包铝带 - 65% IACS导电率, 铜包铝 (Cu/Al), 应用于电子屏蔽和散热器

铜包铝带

铜包铝 (Cu/Al)

导电率: 65% IACS
0.1-5 mm T 5-1000 mm W
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我们的技术团队是中国多项国家标准的制定者,拥有30年行业经验和34项专利,为您提供专业的双金属复合材料解决方案。立即联系我们,获取技术支持和产品报价。

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